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HTGB高溫柵偏測試系統

HTGB高溫柵偏測試系統

HTGB高溫柵偏測試系統是唯一一款動態HTGB測試系統。其優點是軟件控制的測試過程、大量的測試設備和調整試驗參數的靈活性。該系統用高壓變化來刺激被測器件的柵極在許多應用中,特別是在新技術方面。用高壓變化對器件參數的影響在靜態HTGB測試中是看不到的。對于像碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)這樣的新型寬禁帶器件來說,這種動態HTGB技術尤其重要。

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