上海埃飛科技
產品展示
開爾文探針表面光電壓譜儀
50 mm樣品測量桿
半導體單壁碳納米管
掃描開爾文探針系統
開爾文探針系統
紅外熱成像顯微鏡
電感測試儀
表面光電壓譜儀
碳化硅功率器件動態特性測試系統
PEA空間電荷測量儀
HTGB高溫柵偏測試系統
EUV 光刻機光源
深能級瞬態譜儀
美國MMR K2500變溫霍爾效應儀
德國Phystech RH2035 常溫霍爾效應儀